RISC-V架构抗辐照MCU在航天器载荷中的SEU/SEL阈值测试与防护策略摘要随着商业航天与深空探测任务的快速发展,航天器载荷系统对具备高性能、高可靠性与快速迭代能力的微控制器(Microcontroller Unit, MCU)需求日益迫切。传统抗辐照器件长期依赖封闭式架构,在成本效益、技术自主性及生态开放性方面面临显著瓶颈。RISC-V开源指令集架构凭借其模块化设计、可扩展性与活跃的产业生态,为宇航级MCU的研制提供了全新的技术范式。本文基于国科安芯AS32S601ZIT2型32位RISC-V架构MCU的系统性地面辐照试验数据,分析其在空间辐射环境下的单粒子效应(Singl