抗辐照MCU在精密时频系统中的单粒子效应评估与可靠性验证摘要:精密时频系统作为现代导航定位、通信同步及基础科学测量的核心基础设施,其性能高度依赖于高稳频率源与控制电子系统的长期稳定性。随着空间时频载荷及地面高可靠性应用需求的持续增长,精密时频系统的控制单元面临空间辐照环境导致的单粒子效应威胁。本文基于国科安芯AS32S601系列MCU的重离子单粒子试验、质子单粒子效应试验、总剂量效应试验及脉冲激光单粒子效应试验数据,系统分析抗辐照MCU在芯片原子钟等精密时频系统中的单粒子效应敏感性、可靠性评估方法及工程应用策略,深入探讨单粒子锁定、单粒子翻转及总剂量效应对频率