一、信号质量测试
信号在传输的过程中，一般不是标准的矩形波信号，信号质量测试 即通过示波器 测试单板硬件的数字信号和模拟信号的各项指标，包括电源、时钟、复位、CPU小系统、外部接口（USB、网口、串口）、逻辑芯片(CPLD、FPGA)、JTAG等信号，理想的信号波形为矩形波：
阻抗不匹配会导致信号反射，反射信号与原始信号叠加，就会产生过冲、回沟、台阶等信号完整性问题，是影响信号完整性最主要的因素之一。在进行信号质量测试过程中，常见的有如下几类问题波形，分别是：
- 过充
- 振铃
- 边沿过缓
- 回沟（台阶）
- 毛刺
- 振荡
- 时序不满足
二、问题波形
1、信号过充
A、成因：
- 器件驱动能力过强；
- 没有匹配或者匹配不当；
- 相邻信号串扰。
B、危害：
- 成为干扰源，串扰其它器件；
- 当过冲幅值较大或持续时间较长时，可能会导致元器件失效；
- 超过正常供电范围，会产生门锁效应（长时间的信号过冲会使得器件失效率增加）。
C、解决方法：
- 进行阻抗匹配，一般分为源端串联电阻或者末端并联电阻（分为上拉 | 下拉），以减少过冲；
- PCB布线时，避开干扰源和耦合路径。
与过冲 强相关的是振铃 ，常紧随过冲产生，表现为信号会跌落到低于稳态值，然后反弹到高于稳态值，这个过程可能持续一段时间，直到稳定接近于稳态。
【振铃是指当电路中存在反馈环路时，由于信号幅度过大或相位差不当而产生的高频波动，这种波动会导致输出信号的振荡和失真，从而影响电路的正常工作】
2、信号过缓
A、成因：
- 器件驱动能力不足；
- 负载或链路阻抗过大。
B、危害：
- 上升、下降沿过缓慢，会造成数据采样错误；
- 影响输出信号的占空比，导致器件功耗增加，可靠性下降。
C、解决方法：
- 提高驱动能力；
- 减小负载阻抗。
3、信号 回沟
A、成因：
- 负载或链路阻抗不匹配；
- 测试点选取不当。
B、危害：
- 出现在阈值电平附近可能会导致逻辑判断错误；
- 回沟可能会造成多次采样。
C、解决方法：
进行阻抗匹配，保证阻抗连续性，可在信号线上串小电阻改善。
4、信号 毛刺
A、成因：
- PCB走线不当引起的串扰（并行走线较长、信号干扰等）；
- 电源 | 地线噪声【低频谐波（电源谐波）】或线圈自感/互感导致；
- 无去耦电容或位置不当
B、危害：
当毛刺信号成为系统的启动信号、控制信号、握手信号、触发器清零信号、预置信号、时钟信号或锁存器输入信号时，会导致产生逻辑错误。
C、解决方法：
- 优化元器件布局布线，滤波器件靠近信号引脚放置；
- 通过添加去耦电容，降低噪声；
- 检查、校准示波器，保证接地点良好