在ADS中进行稳定性分析的严格方法-使用返回差与策动点阻抗

在ADS中进行稳定性分析的严格方法-使用返回差与策动点阻抗

在ADS中进行稳定性分析(以避免K稳定性因子的局限性)-理论部分中介绍了奈奎斯特图的基本原理和判定方法,并在ADS中举例稳定和不稳定的例子。

在ADS中进行稳定性分析的多种理论方法-使用环路增益和奈奎斯特图中介绍了基于环路增益的稳定性判定方法,讨论并给出了解决注入阻抗问题、单向流动问题。但是,我们都会默认开环增益函数是稳定的,不存在右半平面的极点,这是不严谨的,在此对这个毛病给出解决方法。

参考:https://www.youtube.com/watch?v=kVPzU7Eszk4\&t=300s

ADS工程的官方下载链接:How to Design a Stable High Frequency Amplifier

1、基于返回差的稳定性判定

来自Hendrik Bode在1943的书Network Analysis and Feedback Amplifier Design的第四章

思路是分析需要在内部源平面进行,而不是依赖外部的信号源。而且在分母移除了增益,保证了不分母不存在右半平面极点(我也不太理解,兄弟们自己看原文吧 )。

在ADS仿真时,使用的是高阻抗源,主要目的是监控电压,而不是加载电源(但是这种将端口放置到内部的方法好像没法在实际情况下使用):


运行仿真,发现电路是不稳定 的,但是处于临界位置(可以看到差不多与1相交,但右图有大于1的地方 ):

2、基于策动点阻抗进行稳定性判定

满足Kurakowa震荡条件就会发生震荡,电路则不稳定(同时满足下面三个条件):

  1. 策动点导纳实部小于等于0
  2. 策动点导纳虚部等于0
  3. 策动点导纳虚部的斜率为正

策动点导纳计算式子如下:
y d p ( 1 ) = y 11 y 22 − y 21 y 12 y 22 = d e t ( Y ) y 22 y_{dp(1)}=\frac{y_{11}y_{22}-y_{21}y_{12}}{y_{22}}=\frac{det(Y)}{y_{22}} ydp(1)=y22y11y22−y21y12=y22det(Y)

ADS电路图:

观察结果,对比Kurakowa震荡条件,发现在3.713GHz时处于临界位置 ,这和之前的分析一致:

相关推荐
XINVRY-FPGA10 小时前
XC2C256-7VQG100I Xilinx CoolRunner-II CPLD FPGA
单片机·嵌入式硬件·fpga开发·硬件工程·dsp开发·fpga
XINVRY-FPGA1 天前
EP1C6T144I7N Altera Cyclone FPGA
嵌入式硬件·fpga开发·硬件工程·dsp开发·fpga
硅农深芯1 天前
MOS管GS两端并联电阻(泄放电阻)的作用
硬件工程·智能硬件·mos
控电PLC2 天前
21-2. PLC的基本逻辑指令(触点的串并联指令)
硬件工程·plc
贝塔实验室2 天前
Altium Designer 集成库介绍
arm开发·数据库·驱动开发·硬件工程·射频工程·基带工程·精益工程
聊天QQ:688238862 天前
基于python+opencv的手势识别系统,可控制灯的亮度,智能家居,智能小车
硬件工程
Aaron15883 天前
侦察、测向、识别、干扰一体化平台系统技术实现
人工智能·fpga开发·硬件架构·边缘计算·信息与通信·射频工程·基带工程
贝塔实验室3 天前
如何使用Altium Designer进行项目编译及验证
单片机·嵌入式硬件·mcu·射频工程·基带工程·嵌入式实时数据库·精益工程
JERRY. LIU3 天前
NFC电感线圈的电感量和品质因数
硬件工程·智能硬件·射频工程
MARIN_shen4 天前
Marin说PCB之电容物料的替换经验总计--03
嵌入式硬件·硬件工程·信号处理·pcb工艺