DC-DC芯片基础及其ATE测试

一.DC-DC基础

  • DCDC(直流-直流转换器)是PMIC的一种类型,它和LDO一样,通常用于给电子设备供电,但和LDO不同的是,DCDC一般应用于对效率要求比较高的场景中,另外,LDO一般只能用于降压,而DCDC既可以升压,也可以降压。我们经常听到的开关电源指的就是DC-DC。
  • 具有降压功能的DCDC称作Buck,也是使用率比较高的DCDC,它能将较高的电压转化为一个稳定的低电压。
  • 具有升压功能的DCDC称作Boost,它能将较低的电压转化为一个稳定的高电压。
  • Buck和Boost的拓扑结构类似但又有很大区别,但它们的元器件是几乎相同的。

二.Buck电路的基本工作原理

  • 下图为Buck电路的基本拓扑结构:其中S1是MOS管,在Buck电路中,MOS会一直开合产生PWM波,经过Buck电路,输出一条接近于DC的直流电压波形。
  • 当MOS闭合时,环路是图中紫色的线;二极管D1截止,电流流经电感L1给负载RL供电,此时电容C1和电感L1处于充电和储能状态,由于电感上的电流不能突变,电感上的线圈在未饱和时,IL呈线性增加,此时输出电压显然无法达到输入的电压值。​此时电感的正向伏秒积为​ : <math xmlns="http://www.w3.org/1998/Math/MathML"> ( V i n − V o u t ) ∗ t o n (Vin-Vout)*ton </math>(Vin−Vout)∗ton
  • 当MOS断开时,环路是图中绿色的虚线;由于电感维持原来的电流方向,将之前储能的电流释放给电容C1和负载RL,当电流流经D1时,二极管续流,又经过原来的路径。电容会滤掉尖峰的部分,使波形更平顺。
  • 下图为MOS管闭合以及断开时,各节点的电流波形。可以看到,当MOS管闭合时,此时VIN和电感相连,电感上的电流IL上升,二极管由于反向截止,因此电流为零。

  • 当MOS管断开时,电感左侧和VIN断开不再有电流,电感自身的电流向电感右侧流,经过负载RL,因此此时的IL呈下降趋势,MOS断开的一瞬间,电感电流达到最大,根据楞次定律,此时电感为了维持原来电流的方向,会产生反向电动势,但此时由于MOS的断开,电感左侧电压瞬间拉低,反向电动势使得电感右侧变为负压,因此二极管的阳极为负压,阴极为0V,二极管反向导通,并在这一瞬间吸收了MOS管释放的电流,因此突变一个比较大的电流,随着电感电流下降(释放给负载),二极管上的电流也逐渐减小。

  • MOS管再次闭合时,由于VIN再次恢复供电,二极管状态翻转,反向截止,电流瞬间变为0,此时由于电感左侧的电压为VIN,右侧接地,电感为了维持原来的状态,会产生一个新的反向电动势,即产生一个左负右正的反向电动势来反抗电流的增大(此时电流从右往左,将新电流往左推),因此电流又会线性上升,而不是突然跳变(这是DCDC电路的核心,利用电感上的电流不能突变)。

  • 下图更加详细地展示了Buck电路上各个器件的电流和电压波形。另外,图上没有标注但值得注意的是输出电压的波形(这也是Buck电路的目的,将一个PWM波输出为一个接近于DC的电压)。输出电压即RL的负载,由于RL是完全由电感供电的,所以RL的电压波形应该和IL完全一样,即有明显变化的锯齿波。但由于电容的滤波,使得原来的电压波形被"削峰填谷",使波形变成平滑且波动很小,​​近似于直流的波形​​。因此,输出电压的纹波和电容的容值相关,电容越大,纹波越小。

  • 输入电压与输出电压的关系:根据​电感伏秒平衡​ 原理,导通期间的电感电压 (Vin - Vout)与关断期间的电压 (-Vout)在各自时间内的乘积之和为零,可以间接推导出 Vout = Vin * Duty。(具体推导过程略)

三.Boost电路的基本工作原理

  • Boost电路的元器件组成和Buck完全一样,只是排列方式有区别:电感、二极管和MOS管的位置和Buck不一样。其中S1是MOS管,在Boost电路中,MOS会一直开合产生PWM波。与Buck电路最显著的区别是,​电感L1位于输入侧,并与负载串联​。输出也是接近于DC的电压,但和Buck的区别是,Buck电路实现降压功能,Boost电路实现升压功能。
  • MOS管闭合时,VIN供电给电感L1,此时回路为图中紫色的线;由于二极管反向截止,电流只能经过电感经过MOS管回到电源。由于电感上的电流不能突变,电感上的电流IL会持续上升,此时​此时电感的正向伏秒积为​ : <math xmlns="http://www.w3.org/1998/Math/MathML"> V i n ∗ t o n Vin * ton </math>Vin∗ton
  • MOS管断开时,二极管被导通,电感原本储备的能量和VIN一起释放给RL,同时给电容C1充电,所以此时VOUT>VIN,从而实现升压的目的。MOS管再次闭合,RL的电压也不会直接降为0V,因为之前电容充的电会在此时释放给RL,保证输出电压不会跌到低。
  • 下图为MOS管在开关时,Boost各节点的波形,当MOS管闭合时,MOS管S1闭合,将电感L1的右端直接短路到地(GND)。此时,输入电压VIN全部加在电感L1两端,电感电流IL​线性上升​,电能以磁能的形式储存在电感中。电流沿着MOS管流向GND,此时SW的电平为低;电感电流IL流向MOS管,因此MOS管上的电流IS也呈上升趋势;由于此时二极管的阳极接SW=0V,所以二极管无法导通,没有电流流过,波形表现为低。
  • 当MOS管S1断开时,切断了电感对地的直接通路。由于电感的电流不能突变,为了维持电流的连续,电感会想办法导通二极管,由于此时二极管反向截止,所以电感会产生一个​左负右正​ 的反向电动势,会将SW点的电压抬高一点,使得二极管能导通。这个反向电动势使电感右端的电压​急剧升高​ (叠加在输入电压VIN之上),直到高于输出电压VOUT一个二极管的管压降。此时,二极管D1的阳极电压高于阴极电压,因此二极管​正向导通​ ,此时SW呈现为高电平;MOS管由于和电感断开,瞬间被接地,所以电流为0;二极管由于电感反向电动势的作用被瞬间导通,电感上储存的电流一瞬间释放给二极管,因此波形呈现一个比较大的电流;电感中储存的能量,加上输入电源VIN的能量,​一起​ 通过二极管向负载RL供电,并给输出电容C1充电。电感电流IL​线性下降​。输出电压波形和电感电流波形相反,当MOS管断开时,电感储存的能量和VIN叠加,VOUT上升,当MOS管闭合时,VOUT依靠电容放电来维持,电压线性下降。这一点和Buck不同,因为Buck中电感和负载是串联的,所以在Buck电路中IL和VOUT同升同降,但在Boost电路中,由于电感和RL之间被二极管隔开,电感电流IL和VOUT之间存在时差,所以会产生延后性。

三.同步与异步及自举电路

1.同步与异步

  • 不管是Buck还是Boost,都分为同步型和异步型。我们以下图Buck电路为例,左侧是异步型Buck,即回路依靠二极管D1来续流,右侧是同步二极管,原先的D1被替换成第二个MOS管Q2,利用MOS管的体二极管来续流。
  • 具体工作原理是:当Q1闭合时,Q2完全断开(模拟D1反向截止);当Q1断开时,Q2会在一小段死区时间后闭合,Q2的体二极管代替异步Buck中的二极管,由于MOS本身具有很小的导通阻抗,因此可以减小损耗,提升效率。
  • 我们可以简单计算一下,异步型的Buck损耗为: <math xmlns="http://www.w3.org/1998/Math/MathML"> I o u t ∗ V f Iout*Vf </math>Iout∗Vf,同步型的Buck损耗为 <math xmlns="http://www.w3.org/1998/Math/MathML"> I o u t 2 ∗ R D S ( o n ) Iout²*RDS(on) </math>Iout2∗RDS(on),二极管的导通压降是固定的,通常是0.5-0.7V,而MOS管的RDSon却可以是毫欧级别,因此在电流比较大的情况下同步的Buck损耗比较低,效率比较高。但同步的Buck中的Q2需要外部逻辑控制开合,这一点比异步Buck要复杂。

2.自举电容

  • 在同步型Buck中,由于SW点连接下MOS的D极,同时连接上MOS的S极,由于SW点是PWM波,电压周期性呈现高低电平的变化,所以当电压为高的时候,此时Q1的S极为高,导致Q1无法正常导通。为了解决这个问题,在BST和SW之间接一个自举电容CBoot,当SW为低(0V)时,芯片内部的电源给Cboot充电,直至电容充满,当SW为高时,由于电容两端电压不能突变,所以Cboot会维持所充电的电压例如5V,如果此时SW=12V,那么BST到SW的压差就有17V,芯片内部有一个高边驱动器会将这个17V的压差驱动给MOS管的G极,因此此时的Vg=17V,而Vs=12V,Vgs=5V>Vth从而使MOS导通。

四.DCDC的工作模式

  • DCDC的工作模式大致可以分为CCM、DCM、BCM和FCCM,即连续导通模式、断续导通模式、边界导通模式和强制连续导通模式。

1.连续导通模式CCM

  • CCM要求电感电流在整个正周期内始终为正值,即连续流动,永不归零,具有较小的输出纹波和较低的峰值电流。是DCDC在重载和电感比较大的情况下的工作模式。CCM需要较大的功率电感。

2.断续导通模式DCM

  • DCM要求电感电流在一个周期内可以下降至0并保持一段时间,通常适用于轻载、小电感和低占空比的情况。在相同负载的情况下,DCM所需的功率电感比CCM要更小。在轻载时,效率较高,但同时输出纹波和峰值电流也较大,且对负载变化敏感。

3.边界导通模式BCM

  • BCM是介于BCM和DCM的一种工作模式,即电感电流在一个周期结束时刚好降为0,支持该模式的DCDC一般都是基于电流归零检测机制来控制开关管导通,因此只在少数条件下会用到,例如功率因数校正前端。

4.强制连续导通模式FCCM

  • FCCM主要解决BCM和DCM模式等传统轻载模式下输出纹波大和动态响应延迟的问题,当电感电流低于0的时候,CCM模式下直接进入DCM模式,但在FCCM模式下允许电感电流反向流动,保持永不间断。适用于对输出纹波和动态响应延迟要求比较高的情景,如CPU、GPU、射频电路供电等。

五.DCDC的主要参数及ATE测试方法

  • 不论是Buck还是Boost,对于ATE测试来说,都有几项比较重要的测试,也是PMIC中比较重点的测试参数。(以下都以​数模混合的Buck​为例,测试电路以下图为准)

1.输出电压相关测试项目

  • 测试DCDC转换器的输出电压Vout,测试方法为:VIN在Vtyp条件时上电,SW=Vtyp,数字管脚上电,复位脚上电,配置寄存器到对应的测试模式,VOUT带载,测量VOUT上的电压。调试时需要用示波器抓取VIN和VOUT的波形,需要确认VIN的波形没有明显过冲,然后等待VOUT波形稳定后采集。
  • 负载调整率Rload,测试方法为:分别在轻载和重载条件下测量VOUT1和VOUT2,作差判断变化量是否在规格内,这个方法和LDO类似。
  • 线性调整率Rline,测试方法为:固定负载Iout,分别在不同的VIN条件下测试VOUT,作差判断变化量是否在规格内。

2.静态功耗

  • 静态输入电流Iq,测试方法为:芯片正常开机工作时,VIN和SW同时上电,数字pin脚上电,复位脚上电,芯片开机,配置寄存器到对应的测试模式,分别测试VIN和SW脚上的电流并相加。
  • 关断电流Isd,测试方法为:将数字pin脚悬空,VIN、SW和VOUT同时上电,复位脚拉高再拉低,分别测试VIN、SW和VOUT上的电流并相加。

3.功率管相关

  • 功率管漏电之IDSS(VGS=0V,DS之间的漏电),测试方法为:1.下管的IDSS,如图即Q2的IDSS:上下管关闭,VIN=SW=Vtype,VOUT悬空,数字pin脚上电,复位脚拉高,芯片开机,配置寄存器进入相关测试模式,测量SW上的电流。(​注意:Buck和Boost对于VOUT的处理方式是不同的,Buck悬空即可,Boost需要上电!​) 2.上管的IDSS,如图即Q1的IDSS:上下管关闭,VIN=Vtype,SW接地,VOUT悬空,数字pin脚上电,复位脚拉高,芯片开机,配置寄存器进入相关测试模式,测量VIN上的电流。(Boost恰恰相反,SW接地,VOUT=type,测量VOUT的电流)
  • 功率管漏电之IVGS(VDS=0V,施加VGS,测量G极电流),测试方法为:1.下管的IVGS,上下管关闭,将下管的VDS=0V,即SW=0V,VDD=Vtype,数字pin脚上电,复位脚拉高,芯片开机,配置寄存器进入相关测试模式,由于G极没有电源通道,提供内部电路切换将原本G极的电流引导至其他pin脚测试(如VDD);2.上管的IVGS,上下管关闭,VDD=SW=type(VDS=0),数字pin脚上电,复位脚拉高,芯片开机,配置寄存器进入相关测试模式,由于G极没有电源通道,提供内部电路切换将原本G极的电流引导至其他pin脚测试(如VDD)。(Boost测试同理,注意电感位置有区别)
  • 功率管的RDSon,即MOS管在导通时DS之间的阻抗,测试方法为:1.下管的RDSon,配置相关寄存器使上管关闭,下管导通,VDD=Vtype,SW注入一个电流,通常是500mA,测量SW脚的电压,RDSon=Vsw/Isw。2.上管的RDSon,配置相关寄存器使上管导通,下管关闭,VDD=Vtype,SW拉出一个电流,通常是500mA,测量SW脚的电压,RDSon=(VDD-SW)/Isw。(​Boost是VOUT-SW​)

六.DCDC的PCB Layout注意事项

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