屹晶微 EG2136S 600V三相半桥驱动芯片技术解析

在工业电机驱动、变频空调及高性能开关电源等高压、高可靠性应用中,驱动芯片的集成保护功能、抗干扰能力与高压耐受性成为系统设计的核心。EG2136S 作为屹晶微电子三相驱动系列的"高压安全卫士",将三路600V耐压的半桥驱动器、丰富的硬件保护(欠压、过流、使能关断、噪声滤波)以及负逻辑输入接口集成于SOP28封装内。其输出电流(0.2A/0.35A)虽定位于驱动中小功率器件,但凭借其全面的故障管理能力,为高压三相系统提供了一个高度集成、异常安全、易于监控的驱动解决方案。本解析将深入剖析其负逻辑控制机制、多层级保护协同工作原理以及在高压环境下的设计考量,旨在为工程师构建高可靠性、高安全性三相功率平台提供详尽指南。


一、芯片核心定位


EG2136S 是一款面向高压、高安全性应用 的功能高度集成型三相半桥驱动芯片 。其核心价值在于 600V高端耐压完备的集成保护功能 ,包括三路独立半桥驱动、负逻辑输入、使能(EN)控制、过流(ITRIP)保护、欠压(UV)保护及故障(FAULT)指示 。它专为需要严格故障管理、高抗噪能力及高压隔离三相电机驱动、逆变电源等工业与家电 应用设计。


二、关键电气参数详解


电源电压与保护特性

  • VCC工作电压范围:10V 至 20V(推荐15V)

    为低侧驱动和内部逻辑供电。

  • VCC欠压保护(UVLO):

    检测电压(VCCUV-):8.0V(典型)

    复位电压(VCCUV+):9.0V(典型)

    迟滞(VCCUVH):1.0V

    VCC欠压时,所有六路输出(HO1-3, LO1-3)均被强制拉低。

  • VB欠压保护(自举电源UVLO):

    检测电压(VBSUV-):8.0V(典型)

    复位电压(VBSUV+):9.0V(典型)

    迟滞(VBSUVH):1.0V

    某相VB欠压时,仅该相的 HO输出被拉低,对应的LO仍受LIN控制。

  • 静态电流:

    VCC静态电流(Icc):典型2.5mA

    VBS静态电流(Ibs):典型30uA

输入逻辑特性(核心:负逻辑)

  • HIN1-3(高端输入)与 LIN1-3(低端输入)均为负逻辑(低电平有效)。
    低电平阈值(VIL):< 0.8V
    高电平阈值(VIH):> 3.0V (兼容5V/3.3V,但逻辑相反)
  • 逻辑关系:输出(HO, LO)与输入(HIN, LIN)反相。即:
    输入为低电平时,对应输出为高电平(开启MOS管)。
    输入为高电平时,对应输出为低电平(关闭MOS管)。

内置输入噪声滤波:典型滤波时间200ns,可有效抑制窄脉冲干扰。

输出驱动能力

  • 拉电流能力(IO+):0.2A(最小)
  • 灌电流能力(IO-):0.35A(最小)

驱动能力定位:专门用于驱动低栅极电荷(Qg)的小功率或中功率MOSFET/IGBT。不适合驱动大电流模块。

开关时间与匹配特性(典型值 @ VCC=15V, CL=1nF)

  • 开通延时(ton):450ns
  • 关断延时(toff):380ns
  • 上升时间(tr):190ns
  • 下降时间(tf):75ns
  • 死区时间(DT):300ns(内部固定)


通道匹配性优异:

  • 高低端延时匹配(MT):< 75ns
  • 三通道导通/关断延时匹配(MDT):< 70ns
  • 脉冲宽度匹配(PM):< 75ns

确保三相驱动波形的高度一致性,有利于电机平稳运行。

高压耐受能力

  • 高端悬浮电源耐压:600V

支持直接用于三相380VAC整流(~540VDC)或更高电压的应用场景。

保护与控制功能参数

  • 使能端(EN):高电平有效(>3.0V)。拉低(<0.8V)可同时关闭所有六路输出,关断延时典型450ns。
  • 过流保护端(ITRIP):
    触发阈值(VIITH):0.50V(典型)
    迟滞(VIITHYS):0.09V
    消隐时间(tbl):150ns(防止开机尖峰误触发)
    保护响应延时(tTRIP):750ns
  • 故障指示端(FAULT):开漏输出,低电平有效。在VCC欠压、过流保护触发时拉低。
  • 故障清除延时(RCIN):通过外接RC网络设置故障锁存清除时间(典型1.65ms)。



三、芯片架构与工作原理


三相独立半桥负逻辑驱动架构:

  • 三套驱动通道独立,输入经反相器、滤波器和闭锁逻辑后,驱动电平位移和输出级。

负逻辑与硬件闭锁:

  • 采用负逻辑输入,可能出于抗干扰考虑(低电平更抗噪)。内部闭锁电路确保任何情况下同一桥臂的HO和LO不会同时为高。

多层次保护协同工作机制:

  • 欠压保护(UV):实时监控VCC和三个VB。VCC欠压全局关断;单个VB欠压仅关断对应HO。
  • 过流保护(OCP):通过外部采样电阻将电流信号送至ITRIP引脚。一旦超过阈值,经过消隐和延时后,触发保护,关闭所有输出,并拉低FAULT引脚。
  • 使能全局关断(EN):最高优先级控制,可随时关闭所有输出。
  • 故障锁存与恢复:过流或欠压故障触发后,输出被锁存关闭。故障消除且经过RCIN设定的延时后,自动恢复(如果EN为高)。

自举悬浮电源设计:

  • 每相需外接自举二极管和电容,为标准设计。

四、应用设计要点


逻辑接口设计(关键:负逻辑):

  • 软件必须输出反向逻辑。例如,需要开启高侧MOS管时,MCU应向HIN输出低电平(0)。
  • 建议:在MCU软件中或通过硬件反相器将常规正逻辑PWM转换为负逻辑,以简化编程。

保护功能电路设计:

  • 过流检测(ITRIP):
    通过电流采样电阻(如几毫欧至几十毫欧)和RC滤波网络将相电流信号分压至ITRIP引脚。需确保正常工作时电压低于0.5V,过流时高于0.5V。
    ITRIP引脚的RC滤波时间常数应远小于芯片的消隐时间(150ns),以免影响响应速度。
  • 故障清除(RCIN):
    在RCIN引脚与VCC之间连接一个RC网络(如10kΩ + 0.1μF,时间常数约1ms),用于设定故障锁存时间。
  • 故障指示(FAULT):
    FAULT引脚为开漏输出,需上拉到VCC或MCU的3.3V/5V电源,通过光耦或直接连接至MCU GPIO进行监控。
  • 使能控制(EN):
    默认应通过上拉电阻置为高电平(使能)。可连接至MCU GPIO,用于系统上电顺序控制、软件保护或紧急停机。

自举电路设计:

  • 由于工作电压可能很高(600V),自举二极管 Db 必须选用高压超快恢复二极管,反向恢复时间(trr)< 100ns,反向耐压 >600V。

  • 自举电容 Cb 建议使用高压陶瓷电容(如X7R, 100V耐压),容值通常为0.1μF - 1μF,需根据公式和实际工况验证。

PCB布局规范(高压应用至关重要):

  • 高低压隔离:明确划分高压区域(VB, VS, HO连接点)与低压区域(VCC, GND, 输入信号)。保持足够的爬电距离和电气间隙。
  • 自举与驱动回路:每相的自举二极管、电容及HO输出走线应形成最小环路,并远离敏感信号线。
  • 地线设计:采用"星型"单点接地。将功率地(COM, 连接低侧MOS源极)、芯片电源地(VSS)及信号地(MCU地)在一点连接。
  • 散热设计:SOP28封装需有适当的PCB铜皮散热。

功率器件选型:

  • 根据600V母线电压,选择耐压 ≥ 650V-800V的MOSFET或IGBT。
  • 至关重要:所选器件的总栅极电荷(Qg)必须非常小,以确保0.2A/0.35A的驱动能力能在目标开关频率下实现有效开关,否则会导致开关缓慢、发热严重。

五、典型应用场景


高压三相永磁同步/无刷电机驱动器:

  • 用于变频空调压缩机、冰箱压缩机、工业水泵、风扇等家电及轻工业领域。

三相DC-AC逆变器(光伏逆变器、UPS):

  • 在小功率三相逆变场合,其高集成度和完善保护可简化设计。

高频开关电源的次级同步整流驱动(需适配电压等级)。

任何需要600V隔离驱动与强大故障管理的三相功率拓扑。


六、调试与故障处理


常见问题与对策:

  • 芯片无任何输出:

    检查VCC电压是否 > 9.0V(复位阈值)。

    检查EN引脚是否为高电平(>3.0V)。

    确认输入逻辑是否为负逻辑,使用示波器查看HIN/LIN信号与预期是否相反。

  • 某一相无高端输出(HO):

    测量该相VB-VS电压,确认是否 > 9.0V。

    检查该相自举电路。

  • FAULT引脚持续报故障:

    检查VCC和所有VB电压是否正常。

    检查ITRIP引脚电压是否因干扰或采样电路问题而高于0.5V。

    检查RCIN引脚电路,确认故障清除时间常数是否合理。

  • 开关速度慢,MOS管发热严重:

    这是最可能的问题。确认所选用MOS管/IGBT的Qg是否过大,超出芯片驱动能力。必须更换为Qg更小的器件。

    检查栅极走线是否过长,引入了过大寄生电容。

  • 过流保护误触发:

    检查ITRIP引脚的RC滤波参数,确保能滤除开关噪声但不过度延迟。

    利用芯片的150ns前沿消隐功能,合理设置硬件参数。


七、设计验证要点


保护功能全面测试:

  • UVLO测试:缓慢调节VCC和模拟VB电压,验证欠压关断和复位点。
  • OCP测试:注入模拟过流信号至ITRIP,验证保护触发延时、FAULT指示及输出关断功能。
  • EN功能测试:验证使能控制的响应速度与优先级。

负逻辑功能与波形一致性测试:

  • 验证输入输出反相关系。
  • 同时测量三相六路驱动波形,验证通道间延时匹配性(应<70ns)和死区时间(~300ns)。

高压侧驱动可靠性测试:

  • 在最高输入电压(接近600V)、最大占空比条件下,长时间运行并监测三路自举电容电压的稳定性。

开关性能与热测试:

  • 在满载条件下,使用示波器观测栅极电压的上升/下降沿,评估实际开关速度。
  • 进行热成像测试,确保芯片和功率管在最高工作温度下温升在安全范围内。

抗噪与EMI测试:

  • 在噪声环境中测试系统稳定性,验证输入滤波和抗共模干扰能力。

八、总结


EG2136S 是一款以 "600V高压耐受" 和 "全方位硬件保护" 为核心竞争力的三相半桥驱动芯片。它通过负逻辑输入、集成欠压/过流保护、使能关断及故障指示 等功能,为高压应用构建了一个异常坚固的安全防御体系。

尽管其0.2A/0.35A的输出电流限制了其只能驱动Qg很小 的功率器件,但这恰恰使其在驱动优化后的现代低压降MOSFET时,能够实现高效、可靠的开关 。它的价值在于为那些对系统安全性、可靠性要求极高 ,且功率等级适中的高压三相应用 (如白色家电变频驱动),提供了一个"开箱即用"的高集成度保护型驱动解决方案。

成功应用的关键在于:深刻理解并正确实现其负逻辑接口、精心设计过流检测与保护电路、严格选择匹配的Low-Qg功率器件,并进行严谨的高压PCB布局。

文档出处
本文基于屹晶微电子 EG2136S 芯片数据手册 V1.0 版本整理编写,并结合高压保护型驱动设计经验。具体设计与元器件选型请务必以官方最新数据手册为准,在实际应用中必须重点验证其各项保护功能的阈值与响应,以及驱动能力与所选功率器件的匹配性。

相关推荐
三佛科技-134163842122 小时前
多功能奶泡机MCU方案开发设计分析
单片机·嵌入式硬件·物联网·智能家居·pcb工艺
Morgan-Chen2 小时前
PIR被动红外传感器检测空间范围高清示意图,基于真实菲涅尔透镜结构的3D可视化 | 多视角展示
物联网·硬件工程·智能硬件·射频工程
embedded大铭2 小时前
zynq上的裸机lwip网络性能测试iperf使用心得
单片机·嵌入式硬件
DLGXY2 小时前
STM32——DMA数据转换、DMA+AD多通道(十五)
stm32·单片机·嵌入式硬件
爱学嵌入式的小刘2 小时前
小白学UDP编程:从基础代码到优化实战(附完整可运行代码)
单片机·嵌入式硬件
来自晴朗的明天2 小时前
7、PCF8574 I2C 接口 GPIO 扩展电路
单片机·嵌入式硬件·硬件工程
傻童:CPU3 小时前
STM320F28377D的时钟配置
stm32·单片机·嵌入式硬件
小龙报3 小时前
【51单片机】串口通讯从入门到精通:原理拆解 + 参数详解 + 51 单片机实战指南
c语言·驱动开发·stm32·单片机·嵌入式硬件·物联网·51单片机
2023自学中3 小时前
imx6ull , 4.3寸800*480屏幕,触摸芯片型号 gt9147,显示触摸点的坐标数据
linux·嵌入式硬件