Formality:时序变换(二)(不可读寄存器移除)

相关阅读

Formalityhttps://blog.csdn.net/weixin_45791458/category_12841971.html?spm=1001.2014.3001.5482https://blog.csdn.net/weixin_45791458/category_12841971.html?spm=1001.2014.3001.5482


一、引言

时序变换在Design Compiler的首次综合和增量综合中都可能发生,它们包括:时钟门控(Clock Gating)、寄存器合并(Register Merging)、寄存器复制(Register Replication)、常量寄存器移除(Constant Register Removal)、不可读寄存器移除(Unread register removal)、流水线重定时(Pipeline Retiming)、自适应重定时(Adaptive Retiming)、相位反转(Phase Inversion)、多比特寄存器组(Multibit Banking)。

合适的时序变换越多,就能获得更好的结果质量(QoR),但时序变换会无法避免地造成等价性检查的困难,因为这改变了逻辑锥的结构。虽然使用SVF文件能够解决大部分的问题(关于SVF文件的介绍,参考Design Compiler:set_svf命令以及svf文件简介一文),但对这些时序变换的了解有助于在不使用SVF文件时进行设置和在SVF文件失效时进行调试。

本文将详细阐述时序变换中的不可读寄存器的移除,将简单介绍不可读寄存器的概念,有关不可读概念的详细介绍,参考下面的这篇博客。

Formality:不可读(unread)的概念https://chenzhang.blog.csdn.net/article/details/145242304https://chenzhang.blog.csdn.net/article/details/145242304

二、不可读寄存器移除

图1 不可读寄存器的综合

如图1所示,当Design Compiler识别到不可读寄存器后,它会将其从设计中移除;Formality将自动识别不可读寄存器(无需使用SVF文件和用户设置),一般情况下参考设计中会存在未匹配的不可读寄存器,即使不可读寄存器匹配成功了,默认情况下也不会进行验证(可通过verification_verify_unread_compare_points变量改变)。

三、示例

例1 不可读寄存器

复制代码
// 参考设计
module unread(input a, b, clk, output z);
reg a_r1, a_r2;

assign z = a_r1;
always@(posedge clk) begin
    a_r1 <= a;
    a_r2 <= a & b; // 没有负载
end
 
endmodule
 
// 实现设计
module unread ( a, b, clk, z );
  input a, b, clk;
  output z;


  DFFQXL a_r1_reg ( .D(a), .CK(clk), .Q(z) );
endmodule

例1的匹配结果如下所示,可以看出参考设计中存在一个未匹配的不可读点。

复制代码
*********************************** Matching Results ***********************************
 2 Compare points matched by name
 0 Compare points matched by signature analysis
 0 Compare points matched by topology
 2 Matched primary inputs, black-box outputs
 0(0) Unmatched reference(implementation) compare points
 0(0) Unmatched reference(implementation) primary inputs, black-box outputs
 1(0) Unmatched reference(implementation) unread points
****************************************************************************************

使用report_unmatched_points -status unread可以显示该点的详细信息,可以看出不匹配的点就是被Design Compiler移除的不可读寄存器,如下所示。

复制代码
**************************************************
Report         : unmatched_points
                 -status unread 

Reference      : r:/WORK/unread
Implementation : i:/WORK/unread
Version        : O-2018.06-SP1
Date           : Thu Jan 23 22:32:31 2025
**************************************************

1 Unmatched point (1 reference, 0 implementation):

  Ref  DFF        r:/WORK/unread/a_r2_reg

例1的验证结果如下所示,可以看到即使参考设计中出现了未匹配的寄存器,但由于其被识别为不可读寄存器,因此验证成功。

复制代码
********************************* Verification Results *********************************
Verification SUCCEEDED
----------------------
 Reference design: r:/WORK/unread
 Implementation design: i:/WORK/unread
 2 Passing compare points
----------------------------------------------------------------------------------------
Matched Compare Points     BBPin    Loop   BBNet     Cut    Port     DFF     LAT   TOTAL
----------------------------------------------------------------------------------------
Passing (equivalent)           0       0       0       0       1       1       0       2
Failing (not equivalent)       0       0       0       0       0       0       0       0
****************************************************************************************

假设使用RTL描述同时作为参考设计和实现设计,不可读寄存器能够匹配成功,如下所示。

复制代码
*********************************** Matching Results ***********************************
 2 Compare points matched by name
 0 Compare points matched by signature analysis
 0 Compare points matched by topology
 2 Matched primary inputs, black-box outputs
 0(0) Unmatched reference(implementation) compare points
 0(0) Unmatched reference(implementation) primary inputs, black-box outputs
****************************************************************************************

验证结果如下所示,可以看出不可读的比较点默认情况下会被归为Not Compared类而不进行验证。

复制代码
********************************* Verification Results *********************************
Verification SUCCEEDED
----------------------
 Reference design: r:/WORK/unread
 Implementation design: i:/WORK/unread
 2 Passing compare points
----------------------------------------------------------------------------------------
Matched Compare Points     BBPin    Loop   BBNet     Cut    Port     DFF     LAT   TOTAL
----------------------------------------------------------------------------------------
Passing (equivalent)           0       0       0       0       1       1       0       2
Failing (not equivalent)       0       0       0       0       0       0       0       0
Not Compared
  Unread                       0       0       0       0       0       1       0       1
****************************************************************************************

如果将verification_verify_unread_compare_points变量设置为true,则会对成功匹配的不可读比较点进行验证,如下所示。

复制代码
********************************* Verification Results *********************************
Verification SUCCEEDED
----------------------
 Reference design: r:/WORK/unread
 Implementation design: i:/WORK/unread
 3 Passing compare points
----------------------------------------------------------------------------------------
Matched Compare Points     BBPin    Loop   BBNet     Cut    Port     DFF     LAT   TOTAL
----------------------------------------------------------------------------------------
Passing (equivalent)           0       0       0       0       1       2       0       3
Failing (not equivalent)       0       0       0       0       0       0       0       0
****************************************************************************************
相关推荐
云空5 小时前
《新凯来:半导体设备制造领域的“国家队”》
硬件工程·制造·材料工程·精益工程
小麦嵌入式17 小时前
Linux驱动开发实战(九):Linux内核pinctrl_map详解与优势分析
linux·c语言·汇编·驱动开发·stm32·嵌入式硬件·硬件工程
Moonnnn.2 天前
运算放大器(三)运算放大器的典型应用
笔记·学习·硬件工程
硬件进化论3 天前
从基础到实践(二十三):MCU选型设计指南
单片机·嵌入式硬件·数码相机·电脑·硬件工程·智能手表·智能电视
Yesheldon4 天前
高速电路中的存储器应用与设计三
单片机·嵌入式硬件·fpga开发·硬件架构·硬件工程·智能硬件
陌夏微秋6 天前
开源项目-数控直流电子负载2 120w数控直流电子负载-硬件分析
stm32·单片机·嵌入式硬件·硬件架构·硬件工程·智能硬件
Hug Freedom.6 天前
CHI协议——retry
开发语言·前端·硬件工程·risc-v
Yesheldon7 天前
高度电路中时序设计之二
嵌入式硬件·fpga开发·硬件架构·硬件工程·智能硬件
lindaakk12 天前
从设计到量产:MHO5000如何实现电源EMIEMC测试全流程自动化?
人工智能·驱动开发·fpga开发·硬件工程·dsp开发·射频工程
XYN6113 天前
【嵌入式学习】嘉立创画pcb门电路
笔记·嵌入式硬件·学习·硬件工程