【TMS570LC4357】之相关驱动开发学习记录2

系列文章目录

【TMS570LC4357】之工程创建
【TMS570LC4357】之工程配置修改
【TMS570LC4357】之HALCOGEN使用
【TMS570LC4357】之相关问题及解决
【TMS570LC4357】之相关驱动开发学习记录1


前言

记录笔者在第一次使用TMS570过程中对外设驱动的一些学习碎片。

1. ADC

1.1 转换模式

没有扫描

最多只能group Event 和group1 在连续

1.2 Group的关系

采样缓存满了

覆盖,或者忽略

1.3 Group顺序

不管是12位采样,还是10位,八位,bit15-11:有别的意思

1.4 ADC中断

转换结束中断

阈值中断,采样次数到达这个阈值触发

1.5 溢出中断

1.6 幅值中断

1.7 安全和可靠性

ADREFHI 都需要外部电路提供标准

1.8 ADC采样计算

2. DCAN

2.1 配置


但此时接收不到,是被硬件过滤了,修改初始化配置即可,如下

是否过滤远程帧bit31,扩展帧bit30,MDir 数据方向

2.2 使用接收中断和掩码过滤






数据手册无实际IF1NO寄存器

2.3 中断接收

只接收,设置的CANID

3. N2HET

待补充

4.GPIO

外部上拉电阻,需要开路输出,不然GPIO设置不成功

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