电源芯片的欠压锁定测试是通过逐步调节芯片输入电压，观察芯片输出状态变化来确定锁/恢复阈值。
芯片欠压锁定测试的设备：
可调直流电源：提供芯片输入电压，需支持精准调压和缓升/缓降模式。
示波器：监测芯片使能端和输出端信号，判断是否关断/恢复。
电子负载：模拟芯片实际工作负载，设置恒定电流或电阻模式。
高精度万用表：辅助测量输入电压阈值，提升数据准确性。
芯片欠压锁定测试步骤：
搭建测试电路：将可调电源接芯片 Vin 脚，电子负载接 Vout 脚，示波器探头分别接 Vin、EN、Vout。
初始参数设定：可调电源输出芯片额定输入电压，电子负载设置为芯片典型负载电流。
测关断阈值：缓慢降低 Vin，观察示波器 Vout 是否从正常输出变为低电平，记录此时的 Vin 最小值。
测恢复阈值：关断电源后重新缓慢升高 Vin，观察 Vout 恢复正常输出时的 Vin 最小值。
重复验证：更换 2-3 组负载电流，重复步骤 3-4，确认阈值一致性。
电源芯片的欠压锁定需要不断缓慢调整Vin值，因此测试时需要测试员时刻检测Vout值，如果想要提升测试效率，则可以使用类似ATECLOUD平台的测试系统进行自动化测试，平台可以自动控制Vin升降，记录数据，大幅度提升测试效率和数据精准度。