在高端精密制造领域，传统2D视觉仅能捕捉平面色彩与轮廓信息，无法识别微米级凹凸、浅划痕等形貌缺陷；纯3D检测成本高、运算量大，难以适配产线高速节拍。
面对金属高反光、薄膜透光、纹理干扰、膜下异物等行业共性痛点，埃科光电2.5D光度立体与相位偏折成像系统凭借自研算法与硬件深度融合，为3C、锂电、半导体等行业提供轻量化、高精度、高效率的全新质检方案。
核心技术优势
光度立体与相位偏折双重路线
埃科2.5D成像系统分为光度立体与相位偏折两大技术路线，兼容穹顶光源、线光源、环形光源等多种照明方案，可灵活适配线阵、面阵相机，依托万兆网高速传输，轻松支撑产线连续高速检测。
光度立体成像系统通过控制多角度光源分时曝光，结合自研算法重建被测表面的三维形貌信息；相位偏折成像系统利用程控条纹投射与镜面反射原理，高灵敏度地解析表面起伏引起的相位变化。
独创并行方案，微秒级极速计算
核心技术层面，系统打破传统"先采集后计算"的串行模式，采用图像采集与算法并行处理架构，实现微秒级图像处理延迟，大幅减轻上位机运算压力，匹配量产产线高节拍需求。
多维图像输出，灵活应对复杂场景
内置十余种自研成像算法，可实时输出纹理图、梯度图、形状图、光泽比图等多维度特征图像，针对不同缺陷类型精准凸显细节；搭载独家刀纹去除、缺陷增强算法，可有效滤除金属加工纹理干扰，精准区分背景纹路与真实凹坑、划痕，从根源降低误检、漏检率。
系统级灵活部署
整套系统硬件配置灵活，可根据视野、精度、速度需求自由选配镜头与光源，轻量化易部署，兼容各类新旧检测设备改造。
锂电池全流程品质检测，破解行业痛点
电芯外观与顶盖检测 ： 精准检测方形铝壳电池表面的细微凹坑、划痕以及复杂顶盖表面的极柱划痕、防爆阀变形等异常，即使在高速产线上也能保障实时处理精度。
蓝膜及膜下异物检测： 除了检测蓝膜表面的破损、气泡与褶皱外，搭配近红外（IR）分区光源，系统更能直接穿透电池蓝膜，准确识别出人眼难以分辨的膜下异物。
极片表面缺陷检测： 极片产线节拍快，缺陷类型多样。通过光度立体梯度和积分图可有效表征表面
划痕、气泡等缺陷。
埃科光度立体与相位偏折成像系统，正在以其高速硬件计算技术和丰富的图像处理能力，为3C、锂电、半导体等高端制造领域的自动化检测带来全新视界。
关于埃科光电
作为高端国产工业成像领导者，埃科光电深耕工业机器视觉核心部件十余年，坚持自主研发与技术创新，构建起覆盖光、机、电、算、软的全栈技术体系，持续突破高端成像技术壁垒，产品线覆盖线扫描相机、大幅面阵相机、小幅面相机、图像采集卡及智能光学单元，产品广泛应用于新型显示、半导体、新能源、电子制造等国家战略产业，服务京东方、宁德时代、精测电子等行业头部客户，以过硬品质与专业服务赢得全球市场认可。