C# 基于OpenCv的视觉工作流-章108-区域筛选
本章目标：
一、筛选；
二、宽截图；
三、抠图；
在缺陷检测中，要对识别出的缺陷进行打标识，方便后续人工返修处理。
如果进行零件全身无死角检测，由于零件结构复杂性，某些部位难免出现复检，造成重复打标；
另外，如果打标机构不够灵活，未能实现指哪打哪的精准打标时，当缺陷出现在打标范围之外，就会造成打标失准；
再有，零件自身会反光，有时会出现不属于检测范围的额外反光区域，也影响打标。
为了提高打标的准确性，可以先对干扰区域进行筛选去除，再丢给模型识别。
一、筛选
原理：利用二值化分割图像，再进行面积或周长筛选，则可实现过滤干扰。
筛选功能仅去除不必要的区域，图像尺寸不变，如下图；
二、宽截图
由于目标区很小，目标区之外很大一片都是不必要的区域，如果要裁剪宽度方向可用宽截图功能，如下图；
三、抠图
如果没有打标功能，不需要计算缺陷坐标，可直接抠取目标区域，宽高方向均会自动裁剪，如下图；
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对应系列文章"C# 基于Halcon的视觉工作流"，欢迎前往阅读。
上述内容需要一定的技术功底，本章至此已结束，欢迎阅读下章，谢谢！