前沿探索:RISC-V 架构 MCU 在航天级辐射环境下的可靠性测试摘要随着商业航天和高可靠应用需求的蓬勃发展,空间辐射环境对电子设备的可靠性和稳定性构成严峻挑战,单粒子效应和总剂量效应是半导体器件在太空环境中面临的主要辐射威胁,半导体器件的抗辐射能力成为决定其在严苛太空环境下可靠运行的关键因素。本文以国科安芯推出的RISC-V架构MCU芯片AS32S601ZIT2为例,分析了该MCU芯片在航天级辐射环境下的系列可靠性测试,包括质子单粒子效应试验、总剂量效应试验以及单粒子效应脉冲激光试验。通过详尽的试验流程、严谨的测试方法以及对试验结果的深入分析,本文旨在为学术界和工业界