JTAG：联合测试行动组
JTAG，全称是"Joint Test Action Group"，即联合测试行动组。它是一个由几家主要的电子制造商在1985年发起成立的组织，旨在制定PCB（印刷电路板）和IC（集成电路）的测试标准。JTAG建议于1990年被IEEE（电气和电子工程师学会）批准为IEEE 1149.1-1990测试访问端口和边界扫描结构标准。
JTAG接口是一种国际标准的电子电路测试协议，最初是为了便于芯片级的测试和调试而开发的。它主要应用于嵌入式系统中，尤其是对于那些具有复杂可编程逻辑器件（如FPGA、CPLD）和微控制器的电路板。JTAG接口通常由四个必要信号线组成：TMS（测试模式选择）、TCK（测试时钟输入）、TDI（测试数据输入）、TDO（测试数据输出），有些接口还包含可选的TRST（测试复位）信号线。
JTAG技术的工作原理是在芯片或器件中嵌入一个TAP（Test Access Port）控制器，TAP控制器连接至其他功能模块以及用户外部的JTAG工具上。通过JTAG工具向TAP发送相应指令，在触发信号的作用下，可以操纵TAP控制器对芯片或器件进行调试和测试。JTAG接口支持多种功能，包括硬件调试、固件升级、电路测试等，是现代电子设计和制造中不可或缺的一部分。
在硬件开发和生产过程中，JTAG接口具有重要的作用。它允许开发者在不拆卸设备的情况下，对芯片进行测试和调试，从而提高了开发和生产的效率。同时，JTAG接口还可以用于FPGA/CPLD的编程和调试，使得开发者能够方便地向开发板或产品中导入程序和数据，实现对目标设备的配置和调试。