【正点原子STM32MP257连载】第四章 ATK-DLMP257B功能测试——EEPROM、SPI FLASH测试 #AT24C64 #W25Q128

1)实验平台:正点原子ATK-DLMP257B开发板

2)浏览产品:https://www.alientek.com/Product_Details/135.html

3)全套实验源码+手册+视频下载:正点原子资料下载中心

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  • [第四章 ATK-DLMP257B功能测试------EEPROM、SPI FLASH测试](#第四章 ATK-DLMP257B功能测试——EEPROM、SPI FLASH测试)
    • [4.15 EEPROM测试](#4.15 EEPROM测试)
    • [4.16 SPI FLASH测试](#4.16 SPI FLASH测试)

第四章 ATK-DLMP257B功能测试------EEPROM、SPI FLASH测试

4.15 EEPROM测试

ATK-DLMP257B开发板板载EEPROM芯片,型号为AT24C64 ,它通过I2C总线进行读写访问,具备8KB存储空间。

出厂系统提供一个简单读写测试工具eeprom-rw 来进行AT24C64 的读写测试,执行以下指令即可。

c# 复制代码
cd shell/eeprom
./eeprom-rw

返回如下信息,表示读写正常。


图 4.15 1 eeprom读写测试

4.16 SPI FLASH测试

ATK-DLMP257B开发板板载SPI NOR FLASH 芯片,型号为W25Q128 ,它通过SPI 总线进行读写访问,具备16MB 存储空间。

内核启动时会自动加载W25Q128 驱动,芯片正常工作时,内核会驱动加载信息。出厂系统将SPI Flash 注册成MTD 设备,因此我们可以通过MTD 子系统对其进行文件读写操作。

c# 复制代码
ls /dev/mtd*


图 4.16 1查看mtd 设备

文件读写测试步骤如下:

0、首次使用,需要格式化一遍**/dev/mtdblock0** 分区。注意,如果不是首次使用,请不用执行格式化指令,否则之前执行过的写入文件数据将被清除,需要重新写入;

c# 复制代码
mkfs.vfat /dev/mtdblock0

1、创建自定义挂载目录,并将/dev/mtdblock0 分区以VFAT 格式挂载到此目录;

c# 复制代码
mkdir /home/root/w25q128
mount -t vfat /dev/mtdblock0 /home/root/w25q128

2、进入挂载目录,进行写文件测试;

c# 复制代码
cd /home/root/w25q128
echo "W25Q128 TEST!" > file.txt
sync

3、读文件,确认是否写入成功;

c# 复制代码
cat file.txt

4、最后退出挂载目录,并取消/dev/mtdblock0 分区挂载;

c# 复制代码
cd ../
umount /dev/mtdblock0

此时,写入的文件数据已经存储在SPI FLASH 芯片中,可通过再次挂载目录或者重启板子后重新挂载,来进行文件的读写。

图 4.16 2 SPI FLASH 读写文件测试过程

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