【正点原子STM32MP257连载】第四章 ATK-DLMP257B功能测试——EEPROM、SPI FLASH测试 #AT24C64 #W25Q128

1）实验平台：正点原子ATK-DLMP257B开发板

3）全套实验源码+手册+视频下载：正点原子资料下载中心

[第四章 ATK-DLMP257B功能测试------EEPROM、SPI FLASH测试](#第四章 ATK-DLMP257B功能测试——EEPROM、SPI FLASH测试)
- [4.15 EEPROM测试](#4.15 EEPROM测试)
- [4.16 SPI FLASH测试](#4.16 SPI FLASH测试)

第四章 ATK-DLMP257B功能测试------EEPROM、SPI FLASH测试

ATK-DLMP257B开发板板载EEPROM芯片，型号为AT24C64 ，它通过I2C总线进行读写访问，具备8KB存储空间。

出厂系统提供一个简单读写测试工具eeprom-rw 来进行AT24C64 的读写测试，执行以下指令即可。

c# 复制代码

cd shell/eeprom
./eeprom-rw

返回如下信息，表示读写正常。

图 4.15 1 eeprom读写测试

ATK-DLMP257B开发板板载SPI NOR FLASH 芯片，型号为W25Q128 ，它通过SPI 总线进行读写访问，具备16MB 存储空间。

内核启动时会自动加载W25Q128 驱动，芯片正常工作时，内核会驱动加载信息。出厂系统将SPI Flash 注册成MTD 设备，因此我们可以通过MTD 子系统对其进行文件读写操作。

c# 复制代码

ls /dev/mtd*

图 4.16 1查看mtd 设备

文件读写测试步骤如下：

0、首次使用，需要格式化一遍**/dev/mtdblock0** 分区。注意，如果不是首次使用，请不用执行格式化指令，否则之前执行过的写入文件数据将被清除，需要重新写入；

c# 复制代码

mkfs.vfat /dev/mtdblock0

1、创建自定义挂载目录，并将/dev/mtdblock0 分区以VFAT 格式挂载到此目录；

c# 复制代码

mkdir /home/root/w25q128
mount -t vfat /dev/mtdblock0 /home/root/w25q128

2、进入挂载目录，进行写文件测试；

c# 复制代码

cd /home/root/w25q128
echo "W25Q128 TEST!" > file.txt
sync

3、读文件，确认是否写入成功；

c# 复制代码

cat file.txt

4、最后退出挂载目录，并取消/dev/mtdblock0 分区挂载；

c# 复制代码

cd ../
umount /dev/mtdblock0

此时，写入的文件数据已经存储在SPI FLASH 芯片中，可通过再次挂载目录或者重启板子后重新挂载，来进行文件的读写。

图 4.16 2 SPI FLASH 读写文件测试过程