基于FPGA + JESD204B协议+高速ADC数据采集系统设计

摘 要： 针对激光扫描共聚焦显微镜的大视场、高分辨率需求，为在振镜扫描的时间内获取更多数据量，设计一种基
于 FPGA 的高速数据采集系统。该系统采用 Xilinx 的 A7 系列 FPGA 作为主控芯片，同时选用 TI 公司提供的
LMK0482X 系列时钟发生器和一款支持 JESD204B 协议的单通道 14 位高速 ADC14X250 芯片共同组成信号采集系统。
系统使用 Verilog 硬件描述语言在 Vivado 平台下实现各模块功能，通过 SPI 协议完成 LMK0482X 和 ADC14X250 芯片的
寄存器配置，利用 Xilinx 提供的 JESD204B IP 核构建基于 AXI 协议的高速串行数据链路，实现 ADC 与 FPGA 之间高效
的数据采集传输。实验结果表明，在 5 Gbps 的传输速率下，接口可以正确接收与解析数据，系统的采样速率可达到
250 Mbps ，数据采样精度为 14 bit ，符合激光扫描共聚焦成像仪器的数据采集要求。
0 引言
近年来随着共聚焦显微成像技术的迅速发展，其在生
物医学、材料科学等领域的应用越来越广泛 ［ 1-3 ］ 。由 Ra‐
jadhyaksha 等 ［ 4 ］ 实现了 100~1 000 um×100~1 000 um 视场的
共聚焦扫描系统，图像帧率可达到每秒 30 帧，但是由于数
据采集速率的限制，每帧的采样点数较少，导致图像分辨
率不高。国内对于激光扫描共聚焦显微成像技术的研究
起步较晚，但也有一些高校、研究所参与研究并取得了一
定成果。如胡茂海等 ［ 5 ］ 将检流式与共振式光学扫描镜相
结合，采用凌华公司生产的 9812 采集卡，实现了 4 M/s 的采
样率，理论最高采集速度可达到 20 M/s 。然而，传统的数
据采集方法往往受限于硬件性能和数据采集速率，无法满
足当下对于实时、高分辨率、多维度数据获取的迫切需求。
在本文所述的共聚焦扫描成像系统中，采样率是由二
维振镜的 X 轴速度和过采样率决定的。对于重构一帧
850 pixel×850 pixel 的图像，同时在配合扫描的二维振镜 X
轴频率为 29.3 KHz 的条件下，每个像素点进行 5 倍过采
样。经计算，数据采集系统的采样速率应达到 250 MHz 。
因此，本文设计了一种可以配合激光扫描共聚焦成像数据
的高速采集与处理系统，采用支持 JESD204B 串行协议的
模数转换芯片替代传统的并行 LVDS 接口，以实现数据的
采集转换功能。该接口具有更快的转换速率，且引脚数量
少，可实现更小的封装、更短的布线以及更低的成本 ［ 6-7 ］ 。
系统采用 Xilinx 的 A7 系列 FPGA （ Field Programmable Gate
Array ）为主控芯片，通过一片采样率为 250 Mbps 、数据精
度为 14 bit 的 ADC 芯片实现信号采集。该 ADC 芯片内部
采用基于 serdes 的 JESD204B 接口进行数据传输，其数据瞬
时传输速率高达 5 Gbps 。同时，系统时钟通过 LMK 系列的
时钟管理芯片进行分配，以确保时钟信号同源以及各芯片
间的时钟同步，从而保证数据采集传输质量。测试实验结
果表明，系统功能的实现准确无误，较传统的数据采集系
统采样率大幅提升，对于实现激光扫描共聚焦大视场、高
分辨率成像可起到关键作用。
1 系统方案设计
本系统设计以 Xilinx Vivado 软件为开发平台，其中主
控芯片采用 Xilinx Artix-7 系列的现场可编程门阵列（ FP‐
GA ）。该芯片提供了高性能的功耗比架构和 GTP 高速收
发器，能够支持 JESD204B 协议接口完成高速模数转换器
（ Analog to Digital Converter ， ADC ）的驱动采集。硬件电路
包括 ADC 转换电路、时钟产生电路、电源电路以及外围电
路等。软件部分通过 FPGA 硬件描述语言 Verilog 编程实
现系统功能，包括时钟芯片配置模块、高速 ADC 控制模块、
数据解析映射模块和系统主控模块。系统总体设计结构
框图如图1所示。
本系统采集的数据由模拟前置电路产生差分信号进
入 ADC 芯片， ADC 将模拟信号转变为数字信号，通过
JESD204B 协议将数据传送到 FPGA 中，其中涉及 ADC 的
配置以及数据的解析映射。时钟产生模块主要负责为
JESD204B 链路传输的 TX 与 RX 端提供相应的高速时钟；
系 统 主 控 模 块 负 责 各 模 块 间 的 标 志 位 传 递 ，通 过
JESD204B 接口逻辑完成数字信号的接收与处理，将数据
传送至上位机完成数据的高速采集。
2 硬件设计
2.1 　时钟芯片模块
对于 JESD204B 协议下的高速 ADC 数据采集系统，其
对模数转换器件的采样时钟和数据链路的传输时钟要求
较高，通常需要精密的时钟芯片提供时钟源 ［ 8 ］ 。本系统采
用 TI 公司专为 JESD204B 接口设计的 LMK0482X 系列时钟
芯片作为该模块的核心电路，该芯片内部采用双锁相环结
构，可生成超低抖动、具有射频采样能力的时钟，同时具备
简化系统的功能 ［ 9-10 ］ 。
时钟芯片产生电路如图 2 所示。该芯片的供电电压
为 3.3 V ， PLL 的基准时钟由 SiT910 晶振产生，并输入至
CLKIN0 、 CLKIN1 、 OSCin 3 个引脚，通过 SPI 协议对芯片进
行配置，使 DCLKout 引脚产生多路同源时钟，并分别向
ADC 与 FPGA 提供设备时钟（ Device Clock ）与同步时钟
（ SYSREF Clock ）。同时， SDCLKout 引脚输出 SYSREF 同步
信号，以实现数据链路的时钟对齐。在系统设计中，该时
钟芯片共产生 5 路差分时钟，差分走线通过接入 100 Ω 电
阻进行阻抗匹配。 CPout1 引脚在外部时钟源失效时产生
高电平使能备用晶振，以维持芯片继续工作。


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