晶振频率正确也可能导致系统采样错误、通信异常或启动不稳定，这通常与信号边沿速度和占空比有关。时钟信号不仅控制系统节拍，还定义每一拍的时序边界。
在微控制器(MCU)、现场可编程逻辑器件(FPGA)、以及串行器/解串器(SerDes)等高速器件中，信号边沿的微小偏差或抖动会影响采样精度。
在FPGA系统中，如果时钟上升沿过慢，不同逻辑通道间的采样触发点可能出现微秒级偏差，导致时序裕量被压缩；若占空比偏离50%，触发信号提前或滞后，也会增加抖动与误码风险。
***1.***参数含义
当上升下降时间过慢或波形不对称时，时钟边界模糊，设备容易出现采样偏差。
- 上升时间Tr：信号从低电平的10%Vdd上升到高电平90%Vdd所需的时间。
- 下降时间Tr：信号从高电平的90%Vdd下降到低电平10%Vdd所需的时间。
- 占空比Duty Cycle：一个周期内，高电平持续时间占总周期的比例，理想值为50%。
***2.***影响晶振波形质量的主要因素
不同输出类型的晶振适用于不同场景：
- 差分输出晶振 (LVDS、HCSL、LVPECL)：边沿快、幅度低、抗干扰强，适合高速数字接口或高同步精度系统。
- CMOS/TTL输出：性能稳定，适合控制类电路或通用逻辑系统。
- 射频/GPS系统：常用Clipped Sine或纯Sine输出，保证模拟信号完整性。
2.1 输出驱动结构
- CMOS输出采用推挽电路，性能受晶振驱动能力和输出端负载影响，负载过大或驱动不足会减慢边沿速度。
- LVDS/HCSL采用恒流差分驱动，信号变化快、对称性好，抗干扰能力强。
2.2 负载电容和PCB走线
晶振内部有典型负载电容(如15pF)，保证波形稳定。实际电路中，PCB 走线、电路输入端和其他器件的电容会与晶振内部电容一起形成总负载：
- 总负载过大：上升/下降沿变慢；
- 总负载过小：波形尖锐但易振铃或抖动。
2.3 电源噪声
晶振对电源纹波敏感，电源噪声会导致输出抖动。设计时应加滤波电容，保持地平面连续，让高速信号有稳定返回路径，减少反射和干扰。
2.4 设计建议
- 总负载尽量接近规格书推荐值，可通过PCB走线长度、控制阻抗、匹配电容实现；
- 时钟走线短，阻抗约50Ω；
- 差分线等长，保证同时到达，减少干扰和失真；
- 走线远离高速信号和噪声源，必要时增加地隔离线。
**3.KOAN晶振实例
在设计中，特别关注晶振的关键性能指标，如上升/下降时间(Rise/Fall Time)、占空比(Duty Cycle)等，以确保输出信号符合目标器件的接口要求。晶振针对不同应用提供多种输出波形，包括LVDS、HCSL、Clipped Sine、Sine等。可满足通用控制、高速数字接口及射频/GPS系统的需求。
我们产品8MHz-CMOS输出的时钟振荡器的实测数据：
从测试数据可以看出：
- 上升/下降沿平滑，占空比接近50%，满足通用控制类数字接口要求；
- 通过合理PCB设计和电源滤波，晶振输出波形稳定，信号干扰小。