SRAM型FPGA在宇航领域有广泛的应用，为解决FPGA在空间环境中的单粒子翻转问题，增强设计的可靠性，本文介绍一种低成本的抗辐照解决方案。该方案从外置高可靠存储器中读取配置数据，通过定时刷新结合三模冗余的方式消除单粒子影响，提高系统的鲁棒性。
1.总体设计
SRAM型FPGA的刷新方式主要有两种：一种是通过反熔丝FPGA进行回读刷新控制；另一
种是通过专用的ASIC芯片进行回读刷新控制，但其支持的外围存储器件较为有限。基于通用性设计及灵活性考虑，本文采用方式一进行抗SEU设计，该方案可以兼容多种XILINX VIRTEX系列FPGA，可通过跳线进行FPGA选型配置。
本文所提出的抗SEU方案结构如下图所示。其中XC5VFX130T芯片主要实现高速数字信号处理，AX500反熔丝芯片主要完成对V5 FPGA的配置、监控及刷新功能，Nor Flash用于存放配置程序。
系统工作时，反熔丝FPGA首先会读取三片Nor FLASH中存储的配置文件，采用表决通过的数据作为正确配置信息对XILINX V5系列FPGA进行加载，然后通过SelectMap接口实现对Virtex5 FPGA的定时刷新。
2.软件设计
对XILINX V5系列FPGA的刷新控制主要由AX500反熔丝FPGA完成，本文设计的FPGA刷
新模块的工作流程如下图所示，主要分为以下3部分。
（1）FPGA初始化。Xilinx FPGA上电稳定期间，设计将PROG_B信号拉低3ms对被加载的FPGA配置进行初始化复位，在复位过程中INIT_B信号将保持低电平。等待TPOR时间后若INIT_B拉高则表示FPGA配置区内存已清除，可以执行下一步流程；若INIT_B一直为低，则不断检测该信号，直至拉高为止。
（2）配置FPGA。初始化结束后，开始配置FPGA，设置FPGA管脚M2~M0为110，FPGA将在INIT_B拉高期间设置pin脚，设置加载模式为SelectMap方式。随后反熔丝FPGA将按指定时序从Nor Flash中读取配置数据进行表决，将表决通过的配置数据沿CCLK送至SelectMap接口数据线上。然后模块将持续监测DONE信号查看是否加载成功，若超过预设的配置时间仍未拉高，则产生PROG_B低电平脉冲对Xilinx FPGA进行重载，重载8次仍不成功则回到初始化状态对FPGA进行复位。反熔丝FPGA与Nor Flash接口信号主要由Address22:0、CE#、OE#、WE#、Data15:0、RY/BY#等信号构成，接口时序图如下图所示。
（3）定时刷新。当监测到DONE信号拉高后，则说明Xilinx FPGA加载成功。随后按10MHz
的工作频率执行定时刷新操作并对写读FAR寄存器进行SEFI检测，检测到单粒子翻转则进行
FPGA重载。根据用户手册，XC5VFX130 FPGA的配置数据共有1065221字（25981帧*41字/帧）。如下图所示，刷新FPGA与待加载FPGA接口信号主要由PROG_B、INIT_B、DATA0:7、CCLK、DONE、RDWR_B、CS_B等信号构成。
3.应用验证
使用Modelsim对设计的RTL电路进行了仿真，并进行了应用验证。下图所示为刷新控制模块的仿真验证波形，从图中可以看出，控制模块将读取的配置数据通过SelectMap接口对FPGA进行定时刷新，刷新时序符合FPGA芯片手册的要求。随后通过模拟故障注入的方式对单粒子翻转进行了模拟，禁止刷新功能，并且经JTAG调试接口对XILINXFPGA加载错误的bit文件；注入错误的配置文件后单机遥测存在异常，打开刷新功能后单机功能恢复正常。上述验证方案表明本文设计的系
统功能能够及时纠正单粒子错误。
